全国统一服务热线：
18678928908
| 型号 | TH510系列 |
| 频率范围 | 1kHz~1MHz |
| 基本精度 | 0.05% |
| DC偏置 | ±40V |
| 电容范围 | 0.01pF~10μF |
| 测量模式 | C-V / C-f / C-t |
| 测试参数 | Cp-D / Cs-Rs / Cp-G / |Z|-θ |
| 显示 | 7寸彩色屏，实时C-V曲线 |
| 接口 | USB / LAN / GPIB |
CV分析仪集成高压偏置源（Vds达±1500V）、多通道切换和C-V曲线扫描分析软件，能直接测量Ciss/Coss/Crss等寄生电容参数随偏压的变化。普通LCR电桥只能做无偏压或小偏压下的单点电容测量，无法实现C-V扫描和半导体器件表征，两者是完全不同级别的测试工具。
国产以同惠TH510系列（CV分析）和TH530系列（雪崩测试）为代表，进口有Keysight B1505A/B1506A功率器件分析仪和ITC雪崩测试仪。同惠在1kHz~2MHz频段、2500V/200A雪崩规格上已实现国产替代，性价比优势明显，价格约为进口的1/3~1/5。朝赢电子为同惠授权代理，提供原厂正品和技术支持。
通过C-V测量可提取氧化层厚度tox、衬底掺杂浓度N、平带电压VFB、界面态密度Dit等关键参数。广泛用于MOS电容栅氧质量评估、MOSFET阈值电压提取、PN结掺杂浓度分布分析、SiC MOS界面特性研究等半导体器件物理表征场景，是器件研发和工艺监控的核心测试手段。
UIS（非钳位感性开关）是功率器件雪崩耐量标准测试方法，模拟关断感性负载时器件承受雪崩击穿。EAS（单脉冲）衡量一次雪崩耐受能力（单位：焦耳），EAR（重复脉冲）衡量持续承受多次雪崩的能力。测试时需控制结温和冷却间隔，因为雪崩耐量随温度升高显著降低。
理想C-V曲线在积累区C=Cox（氧化层电容）、耗尽区C下降、反型区取决于频率。实际曲线偏移反映氧化层电荷：正偏压偏移→氧化层中有负电荷；曲线斜率变缓→界面态密度高；积累区电容偏小→氧化层偏厚或面积误差。这些特征可定量评估氧化层质量。
用于测试功率MOSFET、IGBT、SiC MOSFET在关断感性负载时的雪崩耐量。注意：GaN HEMT因宽禁带结构通常没有雪崩能力，不测UIS，而是通过VDS(SURGE)瞬态耐压和短路耐受能力（SCWT）来评估浪涌可靠性。苏州朝赢可协助制定不同器件的测试方案，欢迎访问 朝赢官网 咨询。
主要差异在频率上限和通道数：TH511为基础款，频率1kHz~1MHz、标配2通道；TH512频率升级至2MHz、通道可扩至6路；TH513为最高配，增加高压VDS偏置扫描能力。产线分选和常规C-V测试选TH511即可，研发分析和多路自动测试推荐TH512/TH513。
TH530系列最大雪崩电压2500V、峰值电流200A。支持单脉冲UIS（测EAS）和重复脉冲UIS（测EAR）两种模式，内置高速固态开关和电流传感器，7寸触摸屏可独立设置电压/电流阈值、电感值和脉冲次数，无需外接示波器即可完成全套测试，操作简便效率高。
一是电感选择：电感值太小导致电流上升过快可能烧毁器件，太大则能量偏高测试不够真实，需参考JEDEC JESD24-5标准选取。二是结温影响：EAS随结温升高而显著降低（高温下雪崩耐量可下降30%以上），必须在规定温度下测试，各次脉冲之间要充分冷却。
三种主流方法：高频C-V法（Terman法）操作简单但精度有限；准静态C-V法（QSCV）通过高低频曲线差值计算Dit，精度最高，是SiC MOS界面评估的推荐方法；电导法（Conductance法）对低Dit更灵敏但测试步骤复杂。同惠TH510支持高频C-V测量，适合产线和研发日常使用。
官方授权
苏州朝赢电子是LCR数字电桥官方授权代理商，提供全新原装正品设备及完整技术资料
技术支持
代理团队经LCR数字电桥官方培训认证，提供选型咨询、现场调试、操作培训等专业服务
快速交付
核心型号常备现货，标准品48小时内发货，确保项目进度不受影响
售后保障
享受LCR数字电桥官方质保政策，朝赢提供本地化售后响应，免除后顾之忧
填写以下信息，我们将通过邮件为您发送：产品数据手册（Datasheet）、选型指南、技术白皮书及最新报价。
同惠TH510系列半导体器件CV特性分析仪，频率最高1MHz，专为MOS电容/MOSFET栅氧化层质量评估和界面态密度测量设计。支持C-V、C-f、C-t多种测量模式，适用于半导体工艺监控和器件物理研究。苏州朝赢电子代理销售。苏州朝赢电子科技有限公司授权代理，正品保障，提供专业技术支持和售后服务，欢迎咨询选型与报价。LCR数字电桥同惠TH510系列半导体器件CV特性分析仪，频率最高1MHz，专为MOS电容/MOSFET栅氧化层质量评估和界面态密度测量设计。支持C-V、C-f、C-t多种测量模式，适用于半导体工艺监控和器件物理研究。苏州朝赢电子代理销售。苏州朝赢电子科技有限公司授权代理，正品保障，提供专业技术支持和售后服务，欢迎咨询选型与报价。电子制造、新能源、汽车电子、科研实验、产线检测等行业领域的质量检验和安全合规测试，帮助企业确保产品符合CCC、CE、UL等认证标准。
详细技术规格请参阅本页上方「技术参数」表。LCR数字电桥产品出厂均经过严格校准并附有检测报告，所有仪器均享受原厂质保服务。如需获取完整数据手册（Datasheet）或进行现场演示测试，可通过页面表单或拨打服务热线 18678928908 联系朝赢技术团队，我们将安排工程师提供一对一选型支持。
LCR数字电桥是测试测量领域的专业品牌，产品以精准度、可靠性和完善的售后服务获得业界广泛认可。朝赢电子是官方授权代理商，提供原厂正品保障及本地化技术服务。
客户可通过以下方式完成采购：①通过本页面「获取产品资料」表单提交需求，朝赢销售工程师将在1个工作日内联系并提供报价方案；②拨打服务热线 18678928908 直接咨询；③添加微信获取实时报价。常规型号备有现货，非标或定制型号货期一般为2-4周。朝赢电子支持公对公转账、银行承兑、合同签约等规范采购流程，可开具增值税专用发票。
朝赢电子作为LCR数字电桥的授权代理商，相比直接联系品牌厂商，通过朝赢采购具备以下优势：①更灵活的商务条款和议价空间；②本地化售前选型评估和方案定制服务；③专业工程师现场安装调试和操作培训；④一站式多品牌采购，一次对接解决多种测试需求；⑤售后问题统一窗口处理，无需多方沟通。朝赢秉承「精准测量，赋能制造」的使命，致力于成为客户最值得信赖的测试测量合作伙伴。
